Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (FE-REM) mit elektronen- und röntgeninduzierter EDX Analytik - Fraunhofer IGB
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Rasterelektronenmikroskopie
Measurement of the top bottom effect in scanning transmission electron microscopy of thick amorphous specimens - Gentsch - 1974 - Journal of Microscopy - Wiley Online Library